TO247 超声波扫描显微镜TSCAN效果
TO247克拉克-ksi TSCAN /Cscan图片
德国分层扫描仪在中国地区的总代理(扫描频率*高可以达到2G).扫描分辨率0.1微米. 其主要是针对半导体器件 ,芯片,材料内部的失效分析.其可以检查到:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等.
发布时间:2024-12-10
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