超声波扫描显微镜案例扫描效果解析 

SOT TO247 SOP28透射        

www.clack-china.com

声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，超声探伤显微镜，超声波扫描，超声波扫描仪，SAM超声扫描，声学扫描显微镜，声学扫描,SAT检测 分层扫描仪

超声波扫描显微镜，或超声波显微镜，半导体业界通常都直接简称为c-sam，或sat，主要应用到半导体器件的后封装检测当中。

超声波显微镜，其实它与显微镜几乎不沾边，只是这玩意起先产生的国外，英文是：scanning acoustic microscope，简称sam。后来进入国内，大家也就直接翻译成超声波显微镜了，或者叫声扫显微镜了。因此在很多半导体器件封装厂，大家也就直接用泊业名：c-sam。 其主要是针对集成电路（芯片）、大功率器件，如igbt、材料内部的失效分析。

代表客户 景旺， 盛元半导体，合科泰，东翔 ，长电，芯健，万年芯，江西天漪，TDK,重庆市嘉凌新，华润微电子（重庆），贵州中芯微，byd，京瀚禹，三代半，13所，214所，绵阳9院，臻驱，思睿辰,礼鼎，芯爱，湖南大学等